3月27日，由中国电器科学研究院有限公司（CEI）与美国Atlas材料测试技术有限公司（ATLAS）共同主办，工业产品环境适应性国家重点实验室和广州威凯技术检测技术有限公司协办的首届“中美光伏组件材料耐久性测试技术研讨会”在上海隆重召开。中国电器院副总经理章晓斌出席会议并致开幕词，实验室常务副主任揭敢新、Atlas可再生能源业务总监Kurt Scott先生，中国区业务总监Jared Summerville先生以及来自德国、韩国和VDE上海等国内外嘉宾和专家出席了本次会议。来自常州天合光能、无锡尚德太阳能电力、常州阿特斯阳光电力等国内各大光伏产品生产厂商、研究院所以及测试认证机构的相关代表共计80余人参加此次研讨会。
本次研讨会以“光伏组件和光伏材料耐久性测试”为主题，围绕光伏组件在典型环境下的失效行为及耐久性测试方法领域，中外专家从光伏组件耐久性检测技术、光伏产品测试标准、测试类型等方面作专题报告，得到了参会人员的积极关注，会议气氛热烈。
CEI与ATLAS于2011年11月份签订了合作备忘录，与CEI共建“光伏技术联合服务中心”，致力于在环境适应性领域为中国光伏行业提供测试评价综合性的技术服务，此次会议是CEI和ATLAS联合组织举办的首次光伏行业的技术研讨会，会议的成功召开不但提高了CEI在中国光伏行业的知名度，也推进了CEI与ATLAS在光伏领域的合作关系，为双方进一步拓展中国光伏市场奠定了较好基础。
